产品厚度测量：S形路径测量-----X型射线测厚仪

本公司的X射线测厚仪采用国际上最新的X射线探测技术，专用于服装面料材料厚度测量。采用工业专用计算机集中管理，进行信号采集和处理，实现快速的、高分辨率的在线测量。测量精度高，可长期稳定运行。其主要由1个或多个扫描架，1个或多个面密度(克重)传感器(贝它射线)，和1个带17"彩色显示器的控制柜组成。

测厚仪功能：

  ●连续在线非接触无损测量

  ●多种克量(包括净涂量)实时画面及曲线显示, 自动生成报表

  ●自动反馈控制(包括自动纵向平均厚度控制和自动横向平均厚度控制APC)

  ●开放式数据库，可远程查看实时数据、报表

  ●中英文菜单

  ●“O”型扫描架，扫描宽度可定制

主要技术指标：

  ●测量范围：面料厚度0.3-5.Omm；

  ●可联网微机通讯接口（选择）

  ●定点分辨率：0.1-0.15um

  ●扫描精度≤±0.2%(FS)

  ●响应时间：1-10ms（可调整）

产品厚度测量：点状路径测量-----激光位移测厚仪

使用两台传感器对射测厚的方法。测量设备安装原理如上图：                      
（1） 通过上传感器，精确测量探头1到样品上表面的直线距离 L1
（2） 通过下传感器，精确测量探头2到样品下表面的直线距离 L2
（3）用两探头之间的距离补偿值K 与L1、L2 进行运算
（4）运算法则：K - L1 - L2= δ , δ 即为样品的厚度